Qu’est-ce que l’analyse des surfaces ?

L’analyse des surfaces est exploitée dans l’industrie et la science afin de caractériser les propriétés des matériaux. Notamment la rugosité, la qualité de fabrication et les propriétés anti-usure. Caractériser vos surfaces avec précision apporte un support essentiel à votre R&D.

Qu’est-ce que le NPFLEX ?

La machine NPFLEX du fabriquant BRUKER est un Interféromètre Optique permettant d’analyser les surfaces sans contact, avec une précision et une résolution suffisantes pour mesurer la rugosité d’une surface, détecter les aspérités, etc. Cette Interférométrie s’effectue en lumière blanche (WLI – White Light Interferometry) et permet de capturer des images 3D des surfaces à caractériser.

Les applications de l’interférométrie avec le NPFLEX

L’Interférométrie Optique est utilisée dans différents domaines :

Tribologie et Usure des Matériaux

  • Evaluation de l’usure et de la rugosité des surfaces.
  • Caractérisation des modes et mécanismes d’usure.
  • Mesure du volume usé post-essais ou suite à un retour terrain.

Industries Aéronautique et Automobile

  • Analyse des surfaces de composants critiques, tels que les roulements, engrenages, pièces de turbines…
  • Contrôle qualité et optimisation des procédés de fabrication.
  • Inspection des microstructures et des revêtements protecteurs.

Dispositifs Médicaux et Biomédical

  • Contrôle de la rugosité des surfaces d’implants et prothèses dentaires ou articulaires.
  • Caractérisation de surface de stents & outils chirurgicaux.
  • Validation des traitements de surface biocompatibles.

Microélectronique et Semi-conducteurs

  • Inspection des circuits imprimés et de wafers.
  • Contrôle des structures MEMS et des connecteurs microélectroniques.
  • Analyse de la planarité et de la topographie des composants.

Caractéristiques Techniques

  • Résolution verticale de 0.1 nm.
  • Surface de scan de 300 x 300 mm.
  • Plage de rugosité mesurable de 0.01 à 1000 µm.
  • Mesure par Interférométrie en lumière blanche (WLI) ou par Interférométrie à balayage de phase (PSI).